影響核磁共振測(cè)井的主要因素包括（）、孔隙流體及巖石的潤(rùn)濕性和地層磁化率差異。

井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí)，發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的，與介質(zhì)的電阻率（）。

VSP 測(cè)井是一種高分辨率的（）勘探技術(shù)。

超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、（）、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。

核磁共振弛豫受三種機(jī)制控制：表面弛豫、體積弛豫和（）。

微電阻率成像測(cè)井按井眼條件選擇扶正器，測(cè)井時(shí)極板壓力（）。

電容法持水率計(jì)的現(xiàn)場(chǎng)刻度要求是什么？

當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí)，孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于（）。

在薄互層中，泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層（）。

泥質(zhì)砂巖地層核磁有效孔隙度應(yīng)小于或等于（）孔隙度。