A.測(cè)速和磁記號(hào)
B.測(cè)速和時(shí)間標(biāo)記
C.磁記號(hào)和張力曲線
D.測(cè)速、張力曲線、時(shí)間標(biāo)記和磁記號(hào)
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A.幅度變小,半幅點(diǎn)上移
B.幅度變小,半幅點(diǎn)下移
C.幅度變大,半幅點(diǎn)上移
D.幅度變大,半幅點(diǎn)下移
A.測(cè)井速度是根據(jù)儀器特性、處理軟件和地質(zhì)要求確定的
B.測(cè)速過快將降低儀器縱向分辨率
C.幾種儀器組合時(shí)應(yīng)采用最低測(cè)速儀器的測(cè)速
D.測(cè)速過快影響曲線幅度,但對(duì)深度沒有影響
A.±0.1
B.±0.05
C.±0.03
D.±0.01
A.主刻度
B.主校驗(yàn)
C.測(cè)前刻度
D.測(cè)后校驗(yàn)
A.主刻度
B.主校驗(yàn)
C.測(cè)前刻度
D.測(cè)后校驗(yàn)
最新試題
核磁共振弛豫受三種機(jī)制控制:表面弛豫、體積弛豫和()。
利用多極子聲波測(cè)井可以更好地獲得硬地層和軟地層的縱波、橫波和()等特征參數(shù)。
井壁微電阻率掃描成像儀極板和井壁的間隙增大會(huì)()儀器的垂向分辨率。
簡(jiǎn)述VSP 測(cè)井影響因素。
電容法持水率計(jì)的現(xiàn)場(chǎng)刻度要求是什么?
在()的概念中,沉積環(huán)境和沉積巖特征的辯證關(guān)系是:沉積環(huán)境是形成沉積巖特征的決定因素,沉積巖特征則是沉積環(huán)境的物質(zhì)表現(xiàn)。
()古潛山是指一定地質(zhì)時(shí)期由褶皺作用形成的古山頭,潛山本身就是一個(gè)背斜。
影響核磁共振測(cè)井的主要因素包括()、孔隙流體及巖石的潤(rùn)濕性和地層磁化率差異。
超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、()、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。
核磁共振弛豫包括()。