A.掃查時(shí)，注意觀察是否有始脈沖信號(hào)
B.掃查時(shí)，注意觀察是否有底波信號(hào)
C.掃查時(shí)，注意觀察固定回波信號(hào)或基線上噪聲信號(hào)是否游動(dòng)
D.以上都是
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.了解檢測(cè)對(duì)象、獲取檢查程序
B.根據(jù)檢測(cè)對(duì)象選擇儀器、探頭和參考試塊
C.調(diào)定掃描范圍和靈敏度
D.評(píng)定和記錄檢查結(jié)果
A.聲束從緊固件頭部入射時(shí)，將底波調(diào)至60%滿屏
B.聲束從螺紋端部入射時(shí)，將底波調(diào)至60%滿屏
C.無(wú)論聲束從哪端入射，均將底波調(diào)至80%滿屏
D.必須使用帶模擬裂紋的緊固件調(diào)整靈敏度
A.低稠度耦合劑不利于聲傳播
B.低稠度耦合劑容易進(jìn)入搭接縫中，產(chǎn)生非相關(guān)顯示
C.高稠度耦合劑更適合帶有漆層的表面
D.高稠度耦合劑更容易去除
A.聲束從緊固件頭部入射時(shí)，將底波調(diào)至40%滿屏
B.聲束從螺紋端部入射時(shí)，將底波調(diào)至40%滿屏
C.無(wú)論聲束從哪端入射，均將底波調(diào)至80%滿屏
D.必須使用帶模擬裂紋的緊固件調(diào)整靈敏度
A.去除探頭掃查區(qū)域的漆層
B.去除可能存在裂紋區(qū)域的漆層
C.僅需提高增益而不必去除漆層
D.A和B
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。