A.低稠度耦合劑不利于聲傳播
B.低稠度耦合劑容易進(jìn)入搭接縫中,產(chǎn)生非相關(guān)顯示
C.高稠度耦合劑更適合帶有漆層的表面
D.高稠度耦合劑更容易去除
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A.聲束從緊固件頭部入射時(shí),將底波調(diào)至40%滿屏
B.聲束從螺紋端部入射時(shí),將底波調(diào)至40%滿屏
C.無論聲束從哪端入射,均將底波調(diào)至80%滿屏
D.必須使用帶模擬裂紋的緊固件調(diào)整靈敏度
A.去除探頭掃查區(qū)域的漆層
B.去除可能存在裂紋區(qū)域的漆層
C.僅需提高增益而不必去除漆層
D.A和B
A.在60%基線處出現(xiàn)25%波幅的顯示、且隨探頭移動(dòng)而移動(dòng);
B.在60%基線處出現(xiàn)80%波幅的顯示、且不隨探頭移動(dòng)而移動(dòng);
C.在50%基線處出現(xiàn)80%波幅的顯示、且隨探頭移動(dòng)而移動(dòng);
D.以上顯示都不應(yīng)判為裂紋顯示。
A.信號顯示位置將伴隨探頭沿圓周移動(dòng)而移動(dòng)
B.信號顯示位置不會(huì)伴隨探頭沿圓周移動(dòng)而移動(dòng)
C.當(dāng)探頭沿圓周移動(dòng)時(shí),信號幅度會(huì)變化而位置不會(huì)變化
D.當(dāng)探頭沿圓周移動(dòng)時(shí),信號位置和幅度都將發(fā)生變化
A.盡量從兩個(gè)方向進(jìn)行掃查,以保證聲束覆蓋整個(gè)孔內(nèi)壁;
B.探頭在凸耳外圓與桿身過度區(qū)掃查時(shí),可能會(huì)出現(xiàn)孔波的情況;
C.探頭應(yīng)轉(zhuǎn)動(dòng)或傾斜掃查,以便發(fā)現(xiàn)位于側(cè)壁的小缺陷;
D.以上都是。
最新試題
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
超聲檢測對缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
()可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。