A.在60%基線處出現(xiàn)25%波幅的顯示、且隨探頭移動(dòng)而移動(dòng)；
B.在60%基線處出現(xiàn)80%波幅的顯示、且不隨探頭移動(dòng)而移動(dòng)；
C.在50%基線處出現(xiàn)80%波幅的顯示、且隨探頭移動(dòng)而移動(dòng)；
D.以上顯示都不應(yīng)判為裂紋顯示。
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A.信號(hào)顯示位置將伴隨探頭沿圓周移動(dòng)而移動(dòng)
B.信號(hào)顯示位置不會(huì)伴隨探頭沿圓周移動(dòng)而移動(dòng)
C.當(dāng)探頭沿圓周移動(dòng)時(shí)，信號(hào)幅度會(huì)變化而位置不會(huì)變化
D.當(dāng)探頭沿圓周移動(dòng)時(shí)，信號(hào)位置和幅度都將發(fā)生變化
A.盡量從兩個(gè)方向進(jìn)行掃查，以保證聲束覆蓋整個(gè)孔內(nèi)壁；
B.探頭在凸耳外圓與桿身過(guò)度區(qū)掃查時(shí)，可能會(huì)出現(xiàn)孔波的情況；
C.探頭應(yīng)轉(zhuǎn)動(dòng)或傾斜掃查，以便發(fā)現(xiàn)位于側(cè)壁的小缺陷；
D.以上都是。
A.利用受檢件底面回波；
B.利用受檢件側(cè)壁回波；
C.利用受檢件孔壁回波；
D.盡可能將儀器增益調(diào)至最大。
A.能夠看清參考試塊人工缺陷信號(hào)和觸發(fā)報(bào)警
B.能夠看清底波信號(hào)并保持信號(hào)穩(wěn)定
C.能夠清晰分辨出裂紋信號(hào)和由結(jié)構(gòu)引起的非裂紋等干擾信號(hào)
D.能夠很容易在參考試塊上找出人工缺陷信號(hào)
A.容易接近的區(qū)域
B.任何區(qū)域
C.不容易接近的區(qū)域
D.以上都是
最新試題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。