A.焦距越小,聚焦效果就越好
B.焦距應(yīng)比近場(chǎng)長度長
C.線聚焦探頭檢測(cè)速度快
D.點(diǎn)聚焦探頭檢測(cè)靈敏度較高
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A.有時(shí)幻象波在整個(gè)掃描線上連續(xù)移動(dòng)
B.有時(shí)幻象波在掃描線上是穩(wěn)定的且位于底波之前
C.用耦合劑拍打工件底面時(shí),此波無變化
D.用耦合劑拍打工件底面時(shí),此波跳動(dòng)或波幅降低
A.可不考慮材質(zhì)衰減差修正
B.可不考慮探傷面耦合差補(bǔ)償
C.可采用計(jì)算法或AVG曲線法
D.可不使用試塊
A.垂直線性
B.水平線性
C.衰減器精度
D.電噪聲
A.儀器的水平線性
B.探頭聲束偏離
C.斜楔磨損
D.K值誤差
A.水平線性
B.垂直線性
C.衰減器精度
D.采樣頻率
最新試題
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。
無論聲波相對(duì)于缺陷是垂直入射還是斜入射,缺陷大小不同其反射波的指向性有相當(dāng)大的差異。
缺陷垂直時(shí),擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高,而定位時(shí)就會(huì)誤認(rèn)為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
超聲波檢測(cè)中如果被檢工件衰減嚴(yán)重,定量會(huì)受到影響。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時(shí)間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。
橫波檢測(cè)平板對(duì)接焊縫根部未焊透等缺陷時(shí),不同K值探頭檢測(cè)同一根部缺陷,其回波高相差不大。
為了減少側(cè)壁的影響,必要時(shí)可采用試塊比較法進(jìn)行定量,以便提高定量精度。