利用電子探針的波譜儀，一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個(gè)分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。

被樣品原子核反彈回來的入射電子稱為非彈性背散射電子，能量基本上沒有損失。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在（）半徑的倒易球上。

孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

關(guān)于X射線衍射儀的測量動(dòng)作，說法正確的是（）。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。