A.100Lx
B.200Lx
C.500Lx
D.2000Lx
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A.≯70°
B.≯45°
C.≯5°
D.不必考慮
A.150~1520mm
B.<250mm
C.310~600mm
D.>600mm
A.0.03mm (0.001in)
B.0.08mm (0.003in)
C.0.3mm (0.010in)
D.1.3mm (0.050in)
A.發(fā)現(xiàn)光源反射模糊時(shí)
B.可看到光源有完好反射時(shí)
C.看不到光源有反射時(shí)
D.以上均非
A.視神經(jīng)
B.虹膜
C.角膜
D.視網(wǎng)膜
最新試題
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測(cè)方法是X射線檢測(cè)。
射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。
對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。
下面給出的射線檢測(cè)基本原理中,正確的是()。
X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報(bào)告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。
對(duì)含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家()