A.150~1520mm
B.<250mm
C.310~600mm
D.>600mm
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A.0.03mm (0.001in)
B.0.08mm (0.003in)
C.0.3mm (0.010in)
D.1.3mm (0.050in)
A.發(fā)現(xiàn)光源反射模糊時
B.可看到光源有完好反射時
C.看不到光源有反射時
D.以上均非
A.視神經(jīng)
B.虹膜
C.角膜
D.視網(wǎng)膜
A.300~800nm
B.380~770nm
C.400~800nm
D.250~920nm
A.因設(shè)備龐大、笨重,現(xiàn)場檢驗再好也是困難的
B.飛機(jī)和其他現(xiàn)場維護(hù)檢驗通常要有三人合作:一人操作探頭,一人監(jiān)視儀器,第三者記錄結(jié)果
C.因示波屏顯示亮度有限,戶外檢驗必須用數(shù)字顯示
D.現(xiàn)場檢驗只限于用接觸法探傷
E.以上說法均不妥
最新試題
X射線檢驗人員負(fù)責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。
觀察底片時,為能識別缺陷圖像,缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識別閾值。
為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。
X射線檢測圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測。
對于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時,就可采用多膠片技術(shù)。
二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請手續(xù)。
對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()