A.Xbar-R chart
B.np chart
C.c chart
D.Xbar-s chart
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.不合格品率P控制圖
B.均值-極差x-R控制圖
C.不合格數(shù)c控制圖
D.單值-移動極差X-Rs控制圖
E.不合格品數(shù)np控制圖
A.不合格品率P控制圖
B.均值-極差x-R控制圖
C.不合格數(shù)c控制圖
D.單值-移動極差X-Rs控制圖
E.不合格品數(shù)np控制圖
A.1.33
B.1.67
C.0.67
D.1.0
A.p圖
B.np圖
C.u圖
D.C圖
A.質(zhì)量管理體系運行
B.設備維護保養(yǎng)計劃執(zhí)行情況
C.過程質(zhì)量特性值
D.計量檢測系統(tǒng)
最新試題
Cpk（穩(wěn)定過程的能力指數(shù)）
Ppk用于批量生產(chǎn)時對過程能力分析，Cpk用于批產(chǎn)前對過程能力的分析。
R
“σ ”指 （），是用來衡量一個總數(shù)里標準誤差的統(tǒng)計單位。
σ
做初始能力研究時，Cp大于1.33，這臺機器能力可以接受了。
第Ⅰ類錯誤
當X-MR圖中有連續(xù)9個點落在中心線同一側(cè)時，說明過程處于（）
SPC
1924年，美國的品管大師休哈特（W.A.Shewhart）博士提出將3Sigma原理運用于生產(chǎn)過程當中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”（亦稱為：Shewhart控制圖或3σ控制圖。即：一種以實際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗所分析的過程能力的控制界限比較，而以時間順序表示出來的圖形）。通過對過程變差進行控制，為統(tǒng)計質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎。