A.Xbar-R chart
B.np chart
C.u chart
D.Xbar-s chart
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A.不良
B.缺陷
C.產(chǎn)品
D.OQA reject
A.Xbar-R chart
B.np chart
C.c chart
D.Xbar-s chart
A.不合格品率P控制圖
B.均值-極差x-R控制圖
C.不合格數(shù)c控制圖
D.單值-移動(dòng)極差X-Rs控制圖
E.不合格品數(shù)np控制圖
A.不合格品率P控制圖
B.均值-極差x-R控制圖
C.不合格數(shù)c控制圖
D.單值-移動(dòng)極差X-Rs控制圖
E.不合格品數(shù)np控制圖
A.1.33
B.1.67
C.0.67
D.1.0
最新試題
只有超出USL和LSL才需要采取措施。
當(dāng)X-MR圖中有連續(xù)9個(gè)點(diǎn)落在中心線同一側(cè)時(shí)，說明過程處于（）
Xbar
1924年，美國的品管大師休哈特（W.A.Shewhart）博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”（亦稱為：Shewhart控制圖或3σ控制圖。即：一種以實(shí)際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗(yàn)所分析的過程能力的控制界限比較，而以時(shí)間順序表示出來的圖形）。通過對(duì)過程變差進(jìn)行控制，為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。
“σ ”指 （），是用來衡量一個(gè)總數(shù)里標(biāo)準(zhǔn)誤差的統(tǒng)計(jì)單位。
在繪制控制圖時(shí)，不管采取何種方法，均應(yīng)注意控制圖應(yīng)能顯示過程受控，否則不能計(jì)算過程能力。
P圖控制法適用于對(duì)所有的計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)做統(tǒng)計(jì)過程控制。
SPC
Ppk（性能指數(shù)，即初期過程的性能指數(shù)）
σ