單項(xiàng)選擇題

若某串聯(lián)校正裝置的傳遞函數(shù)為,則該校正裝置屬于()。

A、超前校正
B、滯后校正
C、滯后-超前校正
D、不能判斷


您可能感興趣的試卷

你可能感興趣的試題

1.單項(xiàng)選擇題若某最小相位系統(tǒng)的相角裕度r>0°,則下列說(shuō)法正確的是()。

A.不穩(wěn)定;
B.只有當(dāng)幅值裕度1kg時(shí)才穩(wěn)定;
C.穩(wěn)定

2.單項(xiàng)選擇題

已知開(kāi)環(huán)幅頻特性如圖所示, 則圖中不穩(wěn)定的系統(tǒng)是().

 

A、系統(tǒng)①
B、系統(tǒng)②
C、系統(tǒng)③
D、都不穩(wěn)定

3.單項(xiàng)選擇題開(kāi)環(huán)頻域性能指標(biāo)中的相角裕度γ對(duì)應(yīng)時(shí)域性能指標(biāo)()。

A.超調(diào)σ%
B.調(diào)整時(shí)間ts
C.峰值時(shí)間tp

4.單項(xiàng)選擇題對(duì)于以下情況應(yīng)繪制0°根軌跡的是()。

A.主反饋口符號(hào)為“-”
B.除Kr外的其他參數(shù)變化時(shí)
C.非單位反饋系統(tǒng)
D.根軌跡方程(標(biāo)準(zhǔn)形式)為G(s)H(s)=+1

5.單項(xiàng)選擇題

系統(tǒng)在 r(t)=t2作用下的穩(wěn)態(tài)誤差ess=∞,說(shuō)明()。

A、型別v<2
B、系統(tǒng)不穩(wěn)定
C、輸入幅值過(guò)大
D、閉環(huán)傳遞函數(shù)中有一個(gè)積分環(huán)節(jié)

最新試題

超前校正適用于改善系統(tǒng)的(),而滯后校正常用于改善系統(tǒng)的()。如果系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)和穩(wěn)態(tài)特性均較差時(shí),通常需采用()。

題型:填空題

滯后校正的轉(zhuǎn)折頻率選得距截止頻率越遠(yuǎn),滯后校正裝置本身在處造成的相角滯后就()。然而,距越遠(yuǎn),容易造成“()”現(xiàn)象。

題型:填空題

在原點(diǎn)附近增加一對(duì)開(kāi)環(huán)偶極子,根軌跡的走向和特征根的位置(),所以基本上不改變系統(tǒng)的()特性,其作用主要是改變系統(tǒng)的(),提高系統(tǒng)的靜態(tài)精度。

題型:填空題

微分方程階數(shù)從傳遞函數(shù)中看不出來(lái)。()

題型:判斷題

關(guān)于結(jié)構(gòu)圖的化簡(jiǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()

題型:多項(xiàng)選擇題

用根軌跡法進(jìn)行系統(tǒng)校正,是將高階系統(tǒng)看作次阻尼二階系統(tǒng)進(jìn)行設(shè)計(jì),所以,在校正裝置設(shè)計(jì)之后,需要進(jìn)行(),看被忽略掉的系統(tǒng)極點(diǎn)對(duì)系統(tǒng)動(dòng)態(tài)性能的影響。正因?yàn)榻惦A處理的粗略性,設(shè)計(jì)初確定主導(dǎo)極點(diǎn)位置時(shí)需要留出()。

題型:填空題

PID參數(shù)整定方法通常可以分為理論計(jì)算整定法和()整定法。

題型:填空題

采用相位超前校正將使系統(tǒng)的增益剪切頻率()。(選填增大或減?。?/p>

題型:填空題

系統(tǒng)局部反饋通路中接入的校正裝置稱為()校正裝置。

題型:填空題

閉環(huán)極點(diǎn)的積等于開(kāi)環(huán)極點(diǎn)的積。()

題型:判斷題