單項(xiàng)選擇題典型欠阻尼二階系統(tǒng),當(dāng)開(kāi)環(huán)增益K增加時(shí),系統(tǒng)()。

A.阻尼比ζ增大,超調(diào)量σ%增大
B.阻尼比ζ減小,超調(diào)量σ%增大
C.阻尼比ζ增大,超調(diào)量σ%減小
D.無(wú)阻尼自然頻率ωn減小。


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1.單項(xiàng)選擇題階欠阻尼系統(tǒng)的超調(diào)量σ%>5%,則其阻尼比的范圍為()。

A.ζ>1
B.0<ζ<1
C.0.69<ζ<1
D.0<ζ<0.69

2.單項(xiàng)選擇題二階欠阻尼系統(tǒng)的超調(diào)量σ%<5%,則其阻尼比的范圍為()。

A.ζ>1
B.0<ζ<1
C.0.69<ζ<1
D.0<ζ<0.69

3.單項(xiàng)選擇題二階欠阻尼系統(tǒng)的阻尼振蕩頻率()無(wú)阻尼振蕩頻率。

A.大于
B.小于
C.等于
D.小于等于

5.單項(xiàng)選擇題若二階系統(tǒng)的單位階躍響應(yīng)為衰減振蕩,則系統(tǒng)具有()。

A.兩個(gè)不相等的負(fù)實(shí)根
B.兩個(gè)相等的負(fù)實(shí)根
C.兩個(gè)負(fù)實(shí)部的特征根
D.一對(duì)純虛根

最新試題

關(guān)于結(jié)構(gòu)圖的化簡(jiǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()

題型:多項(xiàng)選擇題

從頻域角度,系統(tǒng)的串連校正方式主要有()校正、()校正和()校正。

題型:填空題

用根軌跡法設(shè)計(jì)系統(tǒng)的校正裝置,首先由給定的()確定主導(dǎo)極點(diǎn)的位置:然后通過(guò)設(shè)置校正裝置的()使根軌跡通過(guò)主導(dǎo)極點(diǎn)的預(yù)期位置;最后,計(jì)算預(yù)期位置處的根軌跡增益從而得到校正裝置(),通過(guò)增加()滿足系統(tǒng)的靜態(tài)精度要求。

題型:填空題

二次振蕩環(huán)節(jié)中包含()個(gè)獨(dú)立儲(chǔ)能元件。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

關(guān)于系統(tǒng)特性下列說(shuō)法錯(cuò)誤的是()

題型:多項(xiàng)選擇題

閉環(huán)極點(diǎn)的積等于開(kāi)環(huán)極點(diǎn)的積。()

題型:判斷題

用根軌跡法進(jìn)行系統(tǒng)校正,是將高階系統(tǒng)看作次阻尼二階系統(tǒng)進(jìn)行設(shè)計(jì),所以,在校正裝置設(shè)計(jì)之后,需要進(jìn)行(),看被忽略掉的系統(tǒng)極點(diǎn)對(duì)系統(tǒng)動(dòng)態(tài)性能的影響。正因?yàn)榻惦A處理的粗略性,設(shè)計(jì)初確定主導(dǎo)極點(diǎn)位置時(shí)需要留出()。

題型:填空題

關(guān)于環(huán)節(jié)以下說(shuō)法正確的是:()

題型:多項(xiàng)選擇題

前饋校正一般不單獨(dú)使用,總是和其他校正方式結(jié)合起來(lái)構(gòu)成()控制系統(tǒng),以滿足某些性能要求較高的系統(tǒng)的需要。

題型:填空題

對(duì)于最小相位系統(tǒng)G(s)H(s),當(dāng)s沿奈氏路徑從-j0變化到+j0時(shí),若G(s)H(s)的奈氏曲線以半徑為無(wú)窮大順時(shí)針轉(zhuǎn)過(guò)π弧度,則該系統(tǒng)的類型為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題