單項選擇題雙晶片直探頭適用于檢查（）
A.餅類鍛件
B.環(huán)類鍛件
C.中厚板
D.以上都可以
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1.單項選擇題下列哪種方法最適合探測厚板（）
A.接觸法垂直入射
B.水浸法垂直入射
C.接觸法斜入射
D.水浸法斜入射
2.單項選擇題探測環(huán)類鍛件時，常采用下列哪種人工反射體來調(diào)整靈敏度（）
A.平底孔
B.V型或矩形槽
C.橫孔
D.A和B
3.單項選擇題環(huán)類鍛件的主要檢測方式是（）
A.端面垂直入射檢驗
B.端面斜入射檢驗
C.圓周面垂直入射檢驗和圓周面斜入射檢驗
D.以上都是
4.單項選擇題根據(jù)餅類鍛件的變形工藝特點，通常具有下列哪種聲傳播特性（）
A.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域大
B.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
C.圓周區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
D.不能確定
5.單項選擇題探測餅類鍛件時，常采用下列哪種人工反射體來調(diào)整靈敏度（）
A.平底孔
B.橫通孔
C.矩形槽
D.V型槽
最新試題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型：單項選擇題
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
題型：單項選擇題
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當提高，這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做（）。
題型：單項選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項選擇題
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
題型：單項選擇題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
題型：單項選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
題型：單項選擇題
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：單項選擇題
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
題型：單項選擇題
調(diào)節(jié)時基線時，應使（）同時對準相應的聲程位置。
題型：單項選擇題