單項(xiàng)選擇題下列哪種掃查方式適用于厚板檢驗(yàn)()

A.全面掃查
B.格子線掃查
C.邊緣掃查
D.以上都可以


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1.單項(xiàng)選擇題雙晶片直探頭適用于檢查()

A.餅類(lèi)鍛件
B.環(huán)類(lèi)鍛件
C.中厚板
D.以上都可以

2.單項(xiàng)選擇題下列哪種方法最適合探測(cè)厚板()

A.接觸法垂直入射
B.水浸法垂直入射
C.接觸法斜入射
D.水浸法斜入射

4.單項(xiàng)選擇題環(huán)類(lèi)鍛件的主要檢測(cè)方式是()

A.端面垂直入射檢驗(yàn)
B.端面斜入射檢驗(yàn)
C.圓周面垂直入射檢驗(yàn)和圓周面斜入射檢驗(yàn)
D.以上都是

5.單項(xiàng)選擇題根據(jù)餅類(lèi)鍛件的變形工藝特點(diǎn),通常具有下列哪種聲傳播特性()

A.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域大
B.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
C.圓周區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
D.不能確定

最新試題

()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

單探頭法容易檢出()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題