A.源的活度和能量是常見的輻射探測(cè)目標(biāo)B.測(cè)量源的位置與遠(yuǎn)近距離可以用在輻射成像等領(lǐng)域上C.暫時(shí)無法通過測(cè)量的信息分析入射粒子的種類D.可以測(cè)量粒子的飛行時(shí)間
A.HPGe和Ge(Li)用于組成γ譜儀,Ge較高的密度和原子序數(shù)有利于γ射線探測(cè)B.Si(Li)探測(cè)器可以作低能量的γ射線和X射線測(cè)量C.Si(Li)探測(cè)器可以作β粒子或其他外部入射的電子的探測(cè),因?yàn)樗有驍?shù)低,反散射小D.Si(Li)探測(cè)器也適合測(cè)量高能γ射線
A.電流脈沖寬度約為μs量級(jí)B.反符合技術(shù)有助于提高探測(cè)器峰康比C.85立方厘米的高純鍺探測(cè)器的相對(duì)探測(cè)效率約為19%D.能量線性很好