A.選用電阻均勻且各向同性的導(dǎo)電材料作電流場(chǎng)的導(dǎo)電介質(zhì)
B.電極的電導(dǎo)率必須比導(dǎo)電介質(zhì)的電導(dǎo)率大得多，以保證電極接近等位體
C.穩(wěn)恒電流場(chǎng)中的電極形狀應(yīng)與被模擬的靜電場(chǎng)中的帶電體幾何形狀相同
D.以上全部
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A.增大
B.減小
C.不變
D.無(wú)法判定是否變化
A.等勢(shì)線的分布更密集
B.電場(chǎng)強(qiáng)度不變
C.等勢(shì)線的形狀會(huì)發(fā)生改變
D.電力線形狀會(huì)產(chǎn)生變化
A.本實(shí)驗(yàn)用穩(wěn)恒磁場(chǎng)模擬靜電場(chǎng)，實(shí)驗(yàn)方法屬于物理模擬
B.本實(shí)驗(yàn)用穩(wěn)恒電流場(chǎng)模擬靜電場(chǎng)，實(shí)驗(yàn)方法屬于物理模擬
C.本實(shí)驗(yàn)用穩(wěn)恒磁場(chǎng)模擬靜電場(chǎng)，實(shí)驗(yàn)方法屬于數(shù)學(xué)模擬
D.本實(shí)驗(yàn)用穩(wěn)恒電流場(chǎng)模擬靜電場(chǎng)，實(shí)驗(yàn)方法屬于數(shù)學(xué)模擬
A.光速測(cè)量的誤差主要來(lái)源于波長(zhǎng)測(cè)量的誤差
B.電路不穩(wěn)定造成的相移變化是較緩慢的。在這種情況下，只要測(cè)量所用的時(shí)間足夠短，就可以把相移的緩慢變化作線性近似
C.采用發(fā)射光束中不同的位置進(jìn)行測(cè)量不會(huì)給波長(zhǎng)測(cè)量帶來(lái)誤差
D.光源的位相一致性好壞及信號(hào)強(qiáng)度的大小不會(huì)影響測(cè)量的準(zhǔn)確性和精度
A.為了提高光速儀所產(chǎn)生激光的亮度
B.電子儀器存在溫飄問(wèn)題
C.為了增大頻率計(jì)輸出信號(hào)的能量
D.電學(xué)儀器都要進(jìn)行預(yù)熱才能使用
最新試題
用三線擺測(cè)定物體的轉(zhuǎn)動(dòng)慣量時(shí)，要求（）
干涉法測(cè)微小量可能會(huì)有以下哪些應(yīng)用？（）
用讀數(shù)顯微鏡測(cè)量膠片長(zhǎng)度和寬度時(shí)候，下面操作正確的是（）
邁克爾遜干涉儀問(wèn)世以來(lái)，完成了下列哪幾個(gè)實(shí)驗(yàn)？（）
用螺旋測(cè)微器測(cè)量鋼珠直徑時(shí)候，要先測(cè)量螺旋測(cè)微器的初始讀數(shù)，下面選項(xiàng)正確的是（）
在用示波器觀察波形圖時(shí)，某同學(xué)測(cè)得的波形周期為8DIV，掃描時(shí)間因子開(kāi)關(guān)SEC/DIV置于10ms位置，微調(diào)調(diào)至校準(zhǔn)位置，則該同學(xué)得到的波形信號(hào)頻率為（）
在薄透鏡成像實(shí)驗(yàn)中，拿取透鏡的方法是（）
用螺旋測(cè)微器測(cè)量初始讀數(shù)時(shí)，如果發(fā)現(xiàn)初始讀數(shù)看不到零讀數(shù)，該如何操作？（）
用自準(zhǔn)直法測(cè)量透鏡焦距的實(shí)驗(yàn)中，物距等于像距等于（）焦距。
在三線擺實(shí)驗(yàn)中，為了提高實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性，我們應(yīng)該（）