A.等勢線的分布更密集
B.電場強度不變
C.等勢線的形狀會發(fā)生改變
D.電力線形狀會產(chǎn)生變化
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A.本實驗用穩(wěn)恒磁場模擬靜電場,實驗方法屬于物理模擬
B.本實驗用穩(wěn)恒電流場模擬靜電場,實驗方法屬于物理模擬
C.本實驗用穩(wěn)恒磁場模擬靜電場,實驗方法屬于數(shù)學模擬
D.本實驗用穩(wěn)恒電流場模擬靜電場,實驗方法屬于數(shù)學模擬
A.光速測量的誤差主要來源于波長測量的誤差
B.電路不穩(wěn)定造成的相移變化是較緩慢的。在這種情況下,只要測量所用的時間足夠短,就可以把相移的緩慢變化作線性近似
C.采用發(fā)射光束中不同的位置進行測量不會給波長測量帶來誤差
D.光源的位相一致性好壞及信號強度的大小不會影響測量的準確性和精度
A.為了提高光速儀所產(chǎn)生激光的亮度
B.電子儀器存在溫飄問題
C.為了增大頻率計輸出信號的能量
D.電學儀器都要進行預熱才能使用
當信號的頻率很高時,測量相位是比較困難的,為了避免這個問題,在光速測量實驗中采用了()的方法,將100MHz的()和()分別與本機振蕩器產(chǎn)生的()混頻,得到兩個低頻信號進行比相。
a.高頻基準信號
b.高頻振蕩信號
c.高頻被測信號
d.差頻檢相
A.d;a;c;b
B.d;b;c;a
C.d;a;b;c
D.d;c;b;a
在光速測量實驗中,通過測量()的波長和頻率測出光速的,原因是()。
a.光
b.調制波
c.光的頻率高達1014Hz,目前的光電接收器中無法響應頻率如此高的光強變化,而無法直接測量光的波長和頻率
d.為了驗證一種新的測量光速的方法
A.a;c
B.b;c
C.a;d
D.b;d
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