測(cè)試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)，其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。

在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。

測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但包括下面哪幾個(gè)內(nèi)容？（）

自動(dòng)化測(cè)試不能夠完全替代手工測(cè)試，但是自動(dòng)化測(cè)試自動(dòng)運(yùn)行速度快，手工測(cè)試無法比。

單元測(cè)試一般由專門的測(cè)試人員和開發(fā)人員一起進(jìn)行。

H模型沒能體現(xiàn)“及早的和不斷的進(jìn)行軟件測(cè)試”原則。

軟件開發(fā)模型中，適用于需求不明，設(shè)計(jì)方案有一定風(fēng)險(xiǎn)的模型是（）

軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)，下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是（）

對(duì)軟件過程中存在的各類文檔格式、標(biāo)準(zhǔn)和描述進(jìn)行評(píng)審，描述的是下面哪一種評(píng)審？（）

下列測(cè)試方法中，對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是（）