A.使始波寬度的影響落在延遲過(guò)程中 B.提高近表面缺陷的檢出能力 C.減少聲能損失 D.測(cè)量薄件的厚度
A.改善對(duì)小缺陷的檢測(cè)能力 B.改善粗糙表面的信噪比 C.改善相鄰缺陷的分辨力 D.以上都是
A.同一個(gè)缺陷的兩次回波 B.根據(jù)儀器性能確定 C.能檢出所有部位的缺陷 D.根據(jù)工藝要求確定