圖是雙晶探頭脈沖反射法檢測示意圖，如果右圖中波T和波3分別是始波和試件底波，則波1和波2分別代表以下哪種波（）
A.波1是缺陷F波、波2是缺陷F二次波
B.波1是雜波、波2是缺陷F波
C.波1是界面波、波2為缺陷F波
D.以上都可能
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一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部，如圖所示，如果只能從試件B面探測的話，采用下列哪種技術(shù)比較合適？（）
A.直射聲束單探頭
B. 斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部，如圖所示，如果只能從試件A面探測的話，采用下列哪種技術(shù)最為合適（）
A.直射聲束單探頭
B.斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
圖是幾種收-發(fā)雙探頭檢測方法，如果圖中探頭的位置固定，則當沒有缺陷F時，哪種排列方式的探頭可以接收到回波（）
A.圖中a
B.圖中b
C.圖中c
D.都不可以
圖是正常情況下帶延遲塊探頭直射聲束檢測波形圖，哪個描述是較為正確的（）
A.回波1為一次界面波，回波2為二次界面波
B.回波1為一次界面波，回波2為一次底波
C.回波1為始脈沖波，回波2為一次底波
D.回波1為始脈沖波，回波2為一次界面波
圖A是斜入射橫波檢測示意圖；如果斜探頭1位置是圖A右圖形的話，斜探頭2位置處的波形圖應(yīng)是圖B中的哪個（）
A.A
B.B
C.C
D.D
最新試題
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
在對缺陷進行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進行靈敏度校準。
（）可以對管路、管道進行長距離檢測。
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射，這種波是（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。
超聲檢測儀盲區(qū)是指（）。