一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部,如圖所示,如果只能從試件B面探測(cè)的話,采用下列哪種技術(shù)比較合適?()
A.直射聲束單探頭
B. 斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
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一缺陷主平面垂直于試件A面且位于試件中部,如圖所示,如果只能從試件A面探測(cè)的話,采用下列哪種技術(shù)最為合適()
A.直射聲束單探頭
B.斜射聲束單探頭
C.直射聲束雙探頭
D.斜射聲束雙探頭
圖是幾種收-發(fā)雙探頭檢測(cè)方法,如果圖中探頭的位置固定,則當(dāng)沒(méi)有缺陷F時(shí),哪種排列方式的探頭可以接收到回波()
A.圖中a
B.圖中b
C.圖中c
D.都不可以
圖是正常情況下帶延遲塊探頭直射聲束檢測(cè)波形圖,哪個(gè)描述是較為正確的()
A.回波1為一次界面波,回波2為二次界面波
B.回波1為一次界面波,回波2為一次底波
C.回波1為始脈沖波,回波2為一次底波
D.回波1為始脈沖波,回波2為一次界面波
圖A是斜入射橫波檢測(cè)示意圖;如果斜探頭1位置是圖A右圖形的話,斜探頭2位置處的波形圖應(yīng)是圖B中的哪個(gè)()
A.A
B.B
C.C
D.D
當(dāng)采用直射脈沖反射法檢測(cè)時(shí),在圖中,哪個(gè)是較典型的有缺陷的顯示()
A.A
B.B
C.C
D.不能確定
最新試題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
()是影響缺陷定量的因素。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。