A.儀器的頻帶寬度
B.檢測(cè)頻率
C.探頭
D.以上都是
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A.儀器的頻帶寬度
B.檢測(cè)頻率
C.聲入射方向
D.以上都是
A.100%比25%
B.100%比50%
C.100%比12.5%
D.不確定
A.100%比25%
B.100%比50%
C.100%比12.5%
D.不確定
橫波雙探頭檢測(cè)技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式3有利于檢測(cè)以下哪種內(nèi)部缺陷?()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
橫波雙探頭檢測(cè)技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式2有利于檢測(cè)以下哪種內(nèi)部缺陷()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
單探頭法容易檢出()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
()是影響缺陷定量的因素。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
儀器水平線性影響()。