A.100%比25%
B.100%比50%
C.100%比12.5%
D.不確定
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你可能感興趣的試題
橫波雙探頭檢測技術的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式3有利于檢測以下哪種內部缺陷?()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
橫波雙探頭檢測技術的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式2有利于檢測以下哪種內部缺陷()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
橫波雙探頭檢測技術的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式1有利于檢測以下哪種內部缺陷()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
是橫波雙探頭檢測技術的典型排列方式,試從圖中判斷哪種排列方式適宜檢測平行于聲入射面的內部缺陷
()
A.方式1
B.方式2
C.方式3
D.以上方式都可以
圖是利用IIW-II試塊調整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。如果按1:2聲程調整的話(入射點對‘0’,滿刻度200),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應是以下哪種情況()
A.50、100、200
B.50、125、200
C.50、75、200
D.50、100、150、200
最新試題
當超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
關于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
靈敏度采用試塊調節(jié)法,下面說法錯誤的是()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
當調節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質衰減不同時,需要進行傳輸修正。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
在對缺陷進行定量前,必須先調節(jié)()。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。