橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式1有利于檢測以下哪種內(nèi)部缺陷()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
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是橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷哪種排列方式適宜檢測平行于聲入射面的內(nèi)部缺陷
()
A.方式1
B.方式2
C.方式3
D.以上方式都可以
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。如果按1:2聲程調(diào)整的話(入射點對‘0’,滿刻度200),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況()
A.50、100、200
B.50、125、200
C.50、75、200
D.50、100、150、200
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。如果按1:1聲程調(diào)整的話(入射點對‘0’,滿刻度100),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況()
A.50
B.50、100
C.50、75、100
D.以上都可能
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R50圓弧面時的示意圖。此時,各反射波之間的間距應(yīng)是多少()
A.25
B.50
C.75
D.100
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準R25圓弧面時的示意圖。此時,各反射波之間的間距應(yīng)是多少()
A.25
B.50
C.75
D.100
最新試題
利用底波計算法進行靈敏度校準時,適用的工件厚度為()。
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
在對缺陷進行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。