A.形狀
B.深度
C.位置
D.尺寸
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A.長(zhǎng)圓柱形缺陷
B.圓片形缺陷
C.球形缺陷
D.點(diǎn)狀缺陷
A.螺孔波
B.底波
C.二次反射波
D.晶粒反射波
A.偏大
B.偏小
C.差不多
D.不確定
A.縱波法
B.橫波法
C.表面波法
D.板波法
A.底面回波
B.側(cè)壁反射波
C.折射波
D.反射波
最新試題
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí),而又沒(méi)有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償,會(huì)使定量誤差增加,精度下降。
衍射時(shí)差法探傷,當(dāng)有缺陷存在時(shí),在直通波和底面反射波之間,接收探頭會(huì)接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
由于超聲波對(duì)進(jìn)入面的表面粗糙度、入射超聲束的方向等有一定的要求,必要時(shí)應(yīng)通過(guò)增添專門(mén)的工序,采用經(jīng)批準(zhǔn)的加工方法準(zhǔn)備超聲波進(jìn)入面。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
儀器時(shí)基線調(diào)節(jié)比例時(shí),若回波前沿沒(méi)有對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn),會(huì)使缺陷定位誤差增加。
液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過(guò)一段液體后再進(jìn)入試件的檢測(cè)的方法。
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度,它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
無(wú)論聲波相對(duì)于缺陷是垂直入射還是斜入射,缺陷大小不同其反射波的指向性有相當(dāng)大的差異。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷的定量依賴于缺陷的回波幅度。