A.降低顯示對(duì)比度
B.反映是否過(guò)清洗
C.多孔性試件背景很難去除
D.反映是否過(guò)乳化
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A.后乳化型滲透探傷需要單獨(dú)的乳化工序
B.水洗型滲透探傷需要單獨(dú)的乳化工序
C.后乳化型滲透探傷可檢驗(yàn)淺而寬的缺陷
D.水洗型滲透探傷可檢驗(yàn)淺而寬的缺陷
A.把零件表面上的滲透劑剛好去除掉
B.清洗得越干凈越好
C.保持一定背景水平
D.要視顯像要求而定
A.表面狀態(tài)
B.缺陷類(lèi)型
C.材料成分
D.零件批量
A.焊縫斜角探傷中，裂紋等危害性缺陷的反射波幅總是最高的
B.焊縫斜角探傷時(shí)如采用直射法，可不考慮結(jié)構(gòu)反射、變型波等干擾回波的影響
C.焊縫探傷所用斜探頭，當(dāng)楔塊底面前部磨損較大時(shí)，其K值將變小
D.焊縫斜角探傷時(shí)常采用液態(tài)耦合劑，說(shuō)明橫波可以通過(guò)液態(tài)介質(zhì)薄層
A.指向性
B.聲東偏離
C.雙峰
D.K值變化
最新試題
超聲波檢測(cè)中如果被檢工件衰減嚴(yán)重，定量會(huì)受到影響。
缺陷垂直時(shí)，擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高，而定位時(shí)就會(huì)誤認(rèn)為缺陷在軸線上，從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
對(duì)于比正?？v波底面回波滯后的變形波稱(chēng)為遲到回波。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷檢出率高，超聲波束覆蓋區(qū)域大，缺陷高度測(cè)量精確，實(shí)時(shí)成像，快速分析。
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度，它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊，使之形成高溫耦合層。
超聲波在圓柱內(nèi)反射，如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換，且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波，返回探頭接收，會(huì)形成等邊的三角形遲到回波。
當(dāng)探頭的性能不佳時(shí)出現(xiàn)兩個(gè)主聲束，發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí)很難判斷是哪個(gè)主聲束發(fā)現(xiàn)的，因此也就難以確定缺陷的實(shí)際位置。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼，電纜為無(wú)機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
分辯率可使用通用探傷儀進(jìn)行測(cè)量，測(cè)試時(shí)儀器抑制置“零”或“開(kāi)”位，必要時(shí)可加匹配線圈。