單項(xiàng)選擇題用一臺(tái)時(shí)基線已準(zhǔn)確校正的超聲波儀器和斜探頭探測(cè)圓心無切的半圓試塊，第一次回波位于滿刻度為10的水平刻度3處，則圓弧面的第二次回波應(yīng)出現(xiàn)在水平刻度的（）處。
A.5
B.7.5
C.8
D.9
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1.單項(xiàng)選擇題CSK-IB試塊將IIW試塊的φ50孔改為φ40、φ44、φ50臺(tái)階孔，其目的是方便用于（）
A.測(cè)定斜探頭折射角的正切（K值）
B.測(cè)定直探頭盲區(qū)范圍
C.測(cè)定橫波斜探頭的分辨力
D.以上全是
2.單項(xiàng)選擇題用一臺(tái)時(shí)基線已準(zhǔn)確校正的超聲波儀器和斜探頭探測(cè)無切槽的IIW2試塊，斜探頭聲束朝向R25方向，若令第一次回波位于滿刻度為100的水平刻度25處，則圓弧面的第二次回波應(yīng)出現(xiàn)在水平刻度的（）
A.50
B.75
C.100
D.以上都不對(duì)
3.單項(xiàng)選擇題平底孔最常用作探測(cè)（）的參考反射體。
A.焊縫
B.薄板
C.管材
D.鍛鑄件
4.單項(xiàng)選擇題長橫孔最常用作探測(cè)（）的參考反射體。
A.焊縫
B.薄板
C.管材
D.鍛件
5.單項(xiàng)選擇題柱孔最常用作（）檢測(cè)的參考反射體。
A.蘭姆波
B.縱波
C.橫波
D.除B以外
最新試題
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
題型：單項(xiàng)選擇題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
題型：單項(xiàng)選擇題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長距離檢測(cè)。
題型：單項(xiàng)選擇題
單探頭法容易檢出（）。
題型：單項(xiàng)選擇題