A.平面波
B.球面波
C.柱面波
D.活塞波
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A.入射到曲界面上時(shí),反射波將發(fā)生聚焦
B.反射波聚焦或發(fā)散與曲面的凸凹(從入射方向看)有關(guān)
C.凹曲面的反射波發(fā)散
D.凸曲面的反射聚焦
A.平面波
B.球面波
C.柱面波
D.活塞波
A.平面波
B.球面波
C.柱面波
D.活塞波
A.45o
B.60o
C.70o
D.75o
A.縱波斜入射,當(dāng)入射角大于60o時(shí)縱波聲壓反射率高
B.縱波斜入射,當(dāng)入射角大于45o時(shí)縱波聲壓反射率高
C.橫波斜入射,當(dāng)入射角等于30o時(shí)橫波聲壓反射率高
D.橫波斜入射,當(dāng)入射角等于35o時(shí)橫波聲壓反射率高
最新試題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
()是影響缺陷定量的因素。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。