A.弱覆蓋
B.條件組合覆蓋
C.語句覆蓋
D.全覆蓋
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.文檔覆蓋
B.路徑覆蓋
C.靜態(tài)覆蓋
D.判定覆蓋
A.代碼走查
B.插樁
C.等價(jià)類劃分
D.邏輯驅(qū)動(dòng)
A.混合的漸增式測(cè)試中對(duì)上層模塊采取自頂向下測(cè)試，使之能較早地顯示系統(tǒng)的總體輪廓。
B.混合的漸增式測(cè)試在軟件開發(fā)過程中使用較少。
C.混合的漸增式測(cè)試中對(duì)某些關(guān)鍵模塊或子系統(tǒng)采用由底向上組裝和測(cè)試的方法。
D.混合的漸增式測(cè)試是自頂向下的漸增式測(cè)試和自底向上的漸增式測(cè)試的合并。
A.白盒測(cè)試
B.軟件測(cè)試
C.分析測(cè)試
D.單元測(cè)試
A.黑盒測(cè)試
B.功能測(cè)試
C.易用性測(cè)試
D.系統(tǒng)測(cè)試
最新試題
模擬負(fù)載測(cè)試需要通過一些參數(shù)的設(shè)定來實(shí)現(xiàn)，常見參數(shù)包括“并發(fā)用戶數(shù)、思考時(shí)間、價(jià)值循環(huán)次數(shù)或持續(xù)時(shí)間、請(qǐng)求的數(shù)據(jù)量和加載的方式”。
下面對(duì)于開發(fā)過程描述正確的是（）
測(cè)試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)，其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。
軟件評(píng)審結(jié)論不包括（）
敏捷開發(fā)中用戶故事評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)3要素包括（）。
白盒測(cè)試作為一種基本測(cè)試方法，應(yīng)用廣泛，但（）不屬于該類方法。
對(duì)軟件過程中存在的各類文檔格式、標(biāo)準(zhǔn)和描述進(jìn)行評(píng)審，描述的是下面哪一種評(píng)審？（）
從一般意義看，測(cè)試結(jié)束的標(biāo)準(zhǔn)定義錯(cuò)誤的是（）
軟件評(píng)審的技術(shù)不包括（）
下列測(cè)試方法中，對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是（）