A.縱剖面圖象顯示
B.橫截面尺寸及位置顯示
C.距離-波幅顯示
D.立體圖形顯示
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A.主聲束掃描不到的區(qū)域
B.近場(chǎng)區(qū)內(nèi)的距離
C.非擴(kuò)散區(qū)長(zhǎng)度
D.被始脈沖寬度所覆蓋的距離
A.材料中散射信號(hào)與脈沖信號(hào)之比為10%
B.人工反射體信號(hào)與雜波信號(hào)之比為10%
C.空載電信號(hào)與示波屏垂直滿刻度之比為10%
D.以上都是
A.返回探頭的超聲能量的大小
B.被檢材料中反射體的位置
C.探頭移動(dòng)的距離
D.超聲脈沖發(fā)射之后經(jīng)過的時(shí)間
A.0.25mm
B.0.125mm
C.1.0mm
D.1.5mm
A.陶瓷
B.石英
C.磁芯和線圈
D.導(dǎo)電金屬
最新試題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
單探頭法容易檢出()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。