單項(xiàng)選擇題用下列哪種方法,缺陷不會(huì)在示波屏上產(chǎn)生一定波形顯示()

A.直探法
B.表面波法
C.斜探法
D.穿透法
E.脈沖回波法


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1.單項(xiàng)選擇題由缺陷反射的聲能值取決于()

A.缺陷大小
B.缺陷方向
C.缺陷類型
D.以上全是
E.僅A 和B

2.單項(xiàng)選擇題在面積——波幅UT 標(biāo)準(zhǔn)試塊中,平底孔有何特征()

A.所有孔徑均相同
B.孔徑不同,從1#到今天為止#試塊,孔徑增量為0.5mm(0.02in)
C.1#試塊孔徑最大,8#試塊孔徑最小
D.孔底離試塊表面深度不同

3.單項(xiàng)選擇題距離波幅校正一般用來補(bǔ)償()

A.噪聲信號(hào)幅度
B.聲速變化
C.換能器尺寸
D.衰減、距離和聲束擴(kuò)散
E.超聲儀的垂直非線性

4.單項(xiàng)選擇題參考試塊的主要用途是()

A.幫操作者獲得最高底波
B.可使儀器調(diào)到最高靈敏度
C.獲得有重復(fù)性的通用參考標(biāo)準(zhǔn)
D.可檢測(cè)非金屬
E.超聲儀的垂直非線性

5.單項(xiàng)選擇題在脈沖回波式超聲探傷儀中, 產(chǎn)生電壓以激勵(lì)探頭的元器件稱為()

A.放大器
B.接收器
C.脈沖發(fā)生器
D.同步發(fā)生器

最新試題

下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯(cuò)誤的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。

題型:判斷題

二次打底焊接或重熔排除,無(wú)需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請(qǐng)手續(xù)。

題型:判斷題

像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。

題型:判斷題

對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。

題型:判斷題

對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型:判斷題

產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線檢測(cè)。

題型:判斷題

為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。

題型:判斷題