A.是否違反國家法律與社會公德
B.是否屬于專利法意義下的發(fā)明創(chuàng)造
C.是否屬于不授予專利權(quán)的發(fā)明創(chuàng)造
D.是否屬于現(xiàn)有技術(shù)
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A.發(fā)明專利申請缺少權(quán)利要求的
B.發(fā)明專利申請文件缺少說明書摘要的
C.實(shí)用新型專利申請缺少說明書的
D.實(shí)用新型專利申請文件缺少說明書附圖的
E.外觀設(shè)計(jì)專利申請文件缺少圖片或照片的
A.請求書
B.權(quán)利要求書
C.簡要說明
D.圖片或者照片
E.說明書摘要
A.發(fā)明專利申請文件中權(quán)利要求應(yīng)當(dāng)以說明書為依據(jù)
B.發(fā)明專利申請的權(quán)利要求包括兩種類型，分別為專利產(chǎn)品和專利方法
C.一項(xiàng)發(fā)明專利可以有多個(gè)獨(dú)立的權(quán)利要求，應(yīng)當(dāng)寫在多項(xiàng)從屬權(quán)利要求之前
D.實(shí)現(xiàn)發(fā)明的優(yōu)選的具體實(shí)施方式是說明書的重要組成部分
A.實(shí)用新型專利申請缺少請求書、權(quán)利要求書、說明書、照片或圖片，國務(wù)院專利行政部門不予受理
B.實(shí)用新型的權(quán)利要求包括兩種類型，分別為專利產(chǎn)品和專利方法
C.一項(xiàng)實(shí)用新型應(yīng)當(dāng)只有一個(gè)獨(dú)立權(quán)利要求
D.實(shí)用新型的說明書應(yīng)當(dāng)作出清楚、完整的說明，以普通消費(fèi)者能夠理解為準(zhǔn)
A.申請外觀設(shè)計(jì)專利的，應(yīng)當(dāng)提交請求書、該外觀設(shè)計(jì)的圖片或者照片以及對該外觀設(shè)計(jì)的簡要說明等文件
B.申請人提交的有關(guān)圖片或者照片應(yīng)當(dāng)清楚地顯示要求專利保護(hù)的產(chǎn)品的外觀設(shè)計(jì)
C.外觀設(shè)計(jì)的保護(hù)范圍以表示在圖片或者照片中的該產(chǎn)品的外觀設(shè)計(jì)為準(zhǔn)
D.外觀設(shè)計(jì)專利申請文件中的簡要說明應(yīng)說明外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的性能
最新試題
常見的核心專利分析方法有（）。
出于“檢全”的考慮，以下通過分類號構(gòu)建的檢索表達(dá)式正確的是（）。
下列選項(xiàng)屬于國家知識產(chǎn)權(quán)局初審張某登記申請主要內(nèi)容的是（）。
商標(biāo)侵權(quán)屬于特殊的民事侵權(quán)行為，應(yīng)當(dāng)依照《民法總則》《侵權(quán)責(zé)任法》和《商標(biāo)法》的有關(guān)規(guī)定承擔(dān)民事責(zé)任。承擔(dān)責(zé)任的方式主要有（）。
出于“檢全”的考慮，以下通過申請人構(gòu)建的檢索表達(dá)式正確的是（）。
下列選項(xiàng)屬于國家知識產(chǎn)權(quán)局撤銷張某經(jīng)獲準(zhǔn)登記的集成電路布圖設(shè)計(jì)的法定程序的是（）。
國家知識產(chǎn)權(quán)局進(jìn)行形式審查的內(nèi)容包括（）。
國家知識產(chǎn)權(quán)局設(shè)置集成電路布圖設(shè)計(jì)登記簿，需要登記集成電路布圖設(shè)計(jì)權(quán)利人的（）及其變更。
下列屬于著作財(cái)產(chǎn)權(quán)的有（）。
地理標(biāo)志專用標(biāo)志合法使用人可采用的地理標(biāo)志專用標(biāo)志標(biāo)示方法有（）。