A.將始波對(duì)準(zhǔn)零位
B.將一次界面波對(duì)準(zhǔn)零位
C.將零件一次底波對(duì)準(zhǔn)零位
D.以上都可以
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A.利用始脈沖至1次底波之間的距離；
B.利用界面波至1次底波之間的距離；
C.利用一次底波和二次底波之間的距離；
D.以上都可以。
A.利用始脈沖至1次底波之間的距離；
B.利用界面波至1次底波之間的距離；
C.利用一次底波和二次底波之間的距離；
D.以上都可以。
A.直射縱波無(wú)法檢測(cè)孔周圍裂紋，只能采用橫波檢測(cè)；
B.由于往返透射率較高，因此多數(shù)采用45º橫波檢測(cè)；
C.某種情況下，橫波可以透過(guò)上層板發(fā)現(xiàn)第二層結(jié)構(gòu)裂紋；
D.以上都是。
A.接近比較困難，需要專用輔助工具完成檢測(cè)
B.往往需要專項(xiàng)培訓(xùn)才能實(shí)施檢測(cè)
C.熟練的操作和豐富的經(jīng)驗(yàn)是必要的，否則可能出現(xiàn)漏檢或誤判
D.以上都是
A.材料的聲速低
B.材料的晶粒組織粗大
C.表面粗糙且不平整
D.以上都有可能
最新試題
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。