A.接近比較困難,需要專用輔助工具完成檢測
B.往往需要專項培訓(xùn)才能實施檢測
C.熟練的操作和豐富的經(jīng)驗是必要的,否則可能出現(xiàn)漏檢或誤判
D.以上都是
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A.材料的聲速低
B.材料的晶粒組織粗大
C.表面粗糙且不平整
D.以上都有可能
A.了解凸耳的結(jié)構(gòu)、受力狀況、缺陷的位置是重要的
B.參考試塊的尺寸和形狀應(yīng)與檢測部位相同
C.調(diào)整靈敏度時,應(yīng)設(shè)置報警閘門
D.以上都是
A.上表面分辨力
B.下表面分辨力
C.縱向分辨力
D.橫向分辨力
A.使用抑制
B.使用更高頻率探頭
C.提高增益
D.以上都可以
A.采用更高的靈敏度
B.掃查面上涂更多的耦合劑
C.保持正確的掃查方向,速度和間距
D.仔細(xì)觀察熒光屏上出現(xiàn)的顯示信號
最新試題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
儀器水平線性影響()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()是影響缺陷定量的因素。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
單探頭法容易檢出()。