A.上表面分辨力
B.下表面分辨力
C.縱向分辨力
D.橫向分辨力
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A.使用抑制
B.使用更高頻率探頭
C.提高增益
D.以上都可以
A.采用更高的靈敏度
B.掃查面上涂更多的耦合劑
C.保持正確的掃查方向，速度和間距
D.仔細(xì)觀察熒光屏上出現(xiàn)的顯示信號(hào)
A.探頭的頻率和波長(zhǎng)
B.零件的厚度和聲束傳播時(shí)間
C.材料的彈性和密度
D.化學(xué)特性和磁/電導(dǎo)率
A.橫波的波長(zhǎng)小于縱波波長(zhǎng)
B.橫波在材料中不易發(fā)生頻散
C.橫波的質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向?qū)θ毕荼容^敏感
D.以上都是
A.掃查時(shí)，注意觀察是否有始脈沖信號(hào)
B.掃查時(shí)，注意觀察是否有底波信號(hào)
C.掃查時(shí)，注意觀察固定回波信號(hào)或基線上噪聲信號(hào)是否游動(dòng)
D.以上都是
最新試題
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。