A.使用抑制
B.使用更高頻率探頭
C.提高增益
D.以上都可以
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A.采用更高的靈敏度
B.掃查面上涂更多的耦合劑
C.保持正確的掃查方向，速度和間距
D.仔細觀察熒光屏上出現(xiàn)的顯示信號
A.探頭的頻率和波長
B.零件的厚度和聲束傳播時間
C.材料的彈性和密度
D.化學(xué)特性和磁/電導(dǎo)率
A.橫波的波長小于縱波波長
B.橫波在材料中不易發(fā)生頻散
C.橫波的質(zhì)點振動方向?qū)θ毕荼容^敏感
D.以上都是
A.掃查時，注意觀察是否有始脈沖信號
B.掃查時，注意觀察是否有底波信號
C.掃查時，注意觀察固定回波信號或基線上噪聲信號是否游動
D.以上都是
A.了解檢測對象、獲取檢查程序
B.根據(jù)檢測對象選擇儀器、探頭和參考試塊
C.調(diào)定掃描范圍和靈敏度
D.評定和記錄檢查結(jié)果
最新試題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
在對缺陷進行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進行（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標準來確定。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。