A.了解凸耳的結(jié)構(gòu)、受力狀況、缺陷的位置是重要的
B.參考試塊的尺寸和形狀應(yīng)與檢測(cè)部位相同
C.調(diào)整靈敏度時(shí),應(yīng)設(shè)置報(bào)警閘門(mén)
D.以上都是
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A.上表面分辨力
B.下表面分辨力
C.縱向分辨力
D.橫向分辨力
A.使用抑制
B.使用更高頻率探頭
C.提高增益
D.以上都可以
A.采用更高的靈敏度
B.掃查面上涂更多的耦合劑
C.保持正確的掃查方向,速度和間距
D.仔細(xì)觀察熒光屏上出現(xiàn)的顯示信號(hào)
A.探頭的頻率和波長(zhǎng)
B.零件的厚度和聲束傳播時(shí)間
C.材料的彈性和密度
D.化學(xué)特性和磁/電導(dǎo)率
A.橫波的波長(zhǎng)小于縱波波長(zhǎng)
B.橫波在材料中不易發(fā)生頻散
C.橫波的質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向?qū)θ毕荼容^敏感
D.以上都是
最新試題
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
儀器水平線性影響()。
單探頭法容易檢出()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。