A.近似為入射角的1/2
B.近似為入射角的4倍
C.等于入射角
D.是入射角的0.256倍
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.軸向檢驗(yàn)
B.徑向檢驗(yàn)
C.A和B兩種檢驗(yàn)都用
D.低頻和高頻檢驗(yàn)
A.材料的折射率
B.材料的聲阻抗
C.材料的彈性常數(shù)
D.材料的泊松比
A.大于入射角
B.小于入射角
C.與入射角相同
D.在臨界角之外
A.發(fā)射器
B.輻射器
C.分離器
D.換能器
A.橫波比縱波波長短
B.橫波在材料中不易發(fā)散
C.橫波的質(zhì)點(diǎn)振動方向?qū)θ毕葺^敏感
D.橫波比縱波的波長要長
最新試題
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
在對缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯誤的是()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。