A.必須保證可以順利進行探測
B.清除銹斑和污物
C.表面應(yīng)達到軋制工藝所達到的平整度
D.上述條件都應(yīng)具備
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A.缺陷越大,AVG曲線越適用
B.越接近探頭的區(qū)域,AVG曲線越準確
C.從AVG曲線上確定的缺陷當量與實際缺陷完全一致
D.在AVG曲線上,由于探頭附近的種種干擾,限制了這一距離內(nèi)的缺陷回波的辯認或評定, 因而存在最小可測距離的限制
A.缺陷自身的形狀與人工缺陷不同
B.缺陷的方向有隨機性
C.缺陷的表面狀態(tài)及組成介質(zhì)與人工缺陷不同
D.上述原因全有
A.螢光屏上剛剛顯示出來
B.回波高度飽和
C.螢光屏滿高度的50%~80%
D.以上全都可以
A.取界面波與第一次底波間的聲程。
B.最后兩次底波間的聲程。
C.取底面回波次數(shù)愈多,測定結(jié)果的精度愈高。
D.取第三次與第四次底波間的聲程。
A.發(fā)射脈沖寬度
B.放大器阻塞時間
C.探頭性能及儀器調(diào)整
D.以上都是
最新試題
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的()。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。
單探頭法容易檢出()。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準相應(yīng)的聲程位置。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低,()。