A、4,6,8,10
B、3,5,7,9
C、6,10
D、以上都不對
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A、增大
B、減小
C、不變
D、按外或內(nèi)圓周面探測而增大或減小
A.粗糙表面回波幅度高
B.無影響
C.光滑表面回波幅度高
D.以上都可能
A、條狀夾渣
B、橫向裂紋
C、密集氣孔
D、與探測面垂直的大而平的缺陷
A、IIW2試塊
B、IIW1試塊
C、實際工件試塊
D、任何平底孔試塊都可以
A、焊道
B、缺陷
C、結(jié)構(gòu)
D、以上全部
最新試題
補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗負(fù)責(zé),對兩個補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過底片觀察提供幫助時,X光室應(yīng)予以配合。
對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
檢測申請時工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
射線檢測最有害的危險源是(),必須嚴(yán)加控制。
一次完整的補(bǔ)焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。
下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯誤的是()。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
像質(zhì)計放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。