A.發(fā)射電路在單位時間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)
B.掃描電路每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)
C.探頭晶片在單位時間內(nèi)向工件重復(fù)輻射超聲波次數(shù)
D.以上全部都是
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A.1―2個
B.數(shù)十個到數(shù)千個
C.與工作頻率有同
D.以上都不對
A.靈敏度范圍
B.線性范圍
C.分辨力范圍
D.選擇性范圍
A.缺陷的性質(zhì)和大小
B.缺陷的形狀和取向
C.缺陷回波的大小和超聲傳播的時間
D.以上都是
A、聲束細(xì)，每次掃查探測區(qū)域小，頻率低
B、每只探頭僅適宜探測某一深度范圍缺陷，通用性差
C、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差，聲束不能完全匯聚一點
D、以上都是
A、靈敏度高
B、橫向分辨率高
C、縱向分辨率高
D、探測粗晶材料時信噪比高
最新試題
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
調(diào)節(jié)時基線時，應(yīng)使（）同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯誤的是（）。
底波計算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
超聲檢測儀盲區(qū)是指（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
實際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。