A.10mm
B.20mm
C.30mm
D.40mm
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A.聲壓與距離成反比
B.聲壓與距離的平方成反比
C.聲壓與距離的平方根成反比
D.以上都不對(duì)
A.平面波
B.柱面波
C.球面波
D.瑞利波
A.透射波介質(zhì)聲阻抗遠(yuǎn)大于入射波聲阻抗時(shí),聲壓幾乎全反射
B.界面兩側(cè)聲阻抗近似相等時(shí),聲壓幾乎全反射
C.對(duì)于鋼/水界面,聲壓透射率很高,聲壓發(fā)射率很低
D.無論界面兩側(cè)為何種介質(zhì),聲波能量守恒
A.探頭的環(huán)向移動(dòng)距離
B.缺陷的埋藏深度
C.檢件的外徑
D.以上選項(xiàng)都是
A.減少衰減
B.保證檢測(cè)靈敏度
C.縮短聲程
D.避免近場(chǎng)區(qū)檢測(cè)
最新試題
儀器水平線性影響()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說法錯(cuò)誤的是()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
單探頭法容易檢出()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。