A.頑磁性；
B.磁導(dǎo)率；
C.電導(dǎo)率；
D.磁致伸縮
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A.電效應(yīng)；
B.電導(dǎo)率效應(yīng)；
C.磁效應(yīng)；
D.以上都是
A、增大電導(dǎo)率
B、對(duì)電導(dǎo)率無影響
C、減小電導(dǎo)率
D、可能增大也可能減小電導(dǎo)率，取決于合金和熱處理類型
A．磁通密度；
B.試驗(yàn)頻率；
C.傳動(dòng)裝置；
D.試驗(yàn)線圈阻抗
A.磁通密度；
B.試驗(yàn)頻率；
C.傳動(dòng)裝置；
D.試驗(yàn)線圈阻抗.
A.應(yīng)提高試驗(yàn)頻率；
B.應(yīng)降低試驗(yàn)頻率；
C.減小填充系數(shù)；
D.不存在減小這種影響的實(shí)際方法.
最新試題
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注，確保定位準(zhǔn)確。
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集，定期送指定的機(jī)構(gòu)處理。
對(duì)于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈，其阻抗變大的情況有（）
下面給出的射線檢測(cè)基本原理中，正確的是（）。
對(duì)于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫，采用的透照方式為（）。
對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品，工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定，檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn)，檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn)，否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。
觀察底片時(shí)，為能識(shí)別缺陷圖像，缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
為了提高射線照相對(duì)比度，可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
X射線探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是（）。