單項選擇題有兩只直徑不同的自比差動式穿過式探頭,若已知兩個差動測量繞組的匝數(shù)誤差相等,當(dāng)兩者的激勵繞組產(chǎn)生相同的磁場強度,則探頭的零電勢是()。

A.直徑大的大
B.直徑小的大
C.二者零電勢相等
D.零電勢是一恒定值


您可能感興趣的試卷

你可能感興趣的試題

1.單項選擇題常用的自比差動式穿過式線圈屬于()。

A.軸向激勵軸向測量
B.軸向激勵法向測量
C.法向激勵軸向測量
D.法向激勵法向測量

2.單項選擇題對方形截面的導(dǎo)電試件,選用渦流探傷時可采用()。

A.穿過式探頭
B.旋轉(zhuǎn)式探頭
C.混合式探頭
D.以上三者都可以

3.單項選擇題測量繞組主要用來檢測試件中變化的()。

A.激勵磁場
B.渦流磁場
C.磁疇磁場
D.以上三者都是

4.單項選擇題激勵繞組的功能是()。

A.發(fā)現(xiàn)試件中渦流變化
B.在試件中激勵出渦流
C.發(fā)現(xiàn)試件中的分子磁矩
D.激勵出試件磁疇

5.單項選擇題渦流檢測線圈必須具備的功能是()。

A.激勵渦流和放大信號
B.檢測并放大信號
C.激勵渦流和檢測信號
D.檢測并處理信號

最新試題

對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()

題型:單項選擇題

缺陷分類應(yīng)符合驗收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

觀察底片時,為能識別缺陷圖像,缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識別閾值。

題型:判斷題

為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。

題型:判斷題

對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()

題型:單項選擇題

檢測申請時工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。

題型:判斷題

產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗合格后不得再實施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請進行X射線檢測。

題型:判斷題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。

題型:判斷題

點焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。

題型:判斷題

一次完整的補焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。

題型:判斷題