A.直徑大的大
B.直徑小的大
C.二者零電勢相等
D.零電勢是一恒定值
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.軸向激勵軸向測量
B.軸向激勵法向測量
C.法向激勵軸向測量
D.法向激勵法向測量
A.穿過式探頭
B.旋轉(zhuǎn)式探頭
C.混合式探頭
D.以上三者都可以
A.激勵磁場
B.渦流磁場
C.磁疇磁場
D.以上三者都是
A.發(fā)現(xiàn)試件中渦流變化
B.在試件中激勵出渦流
C.發(fā)現(xiàn)試件中的分子磁矩
D.激勵出試件磁疇
A.激勵渦流和放大信號
B.檢測并放大信號
C.激勵渦流和檢測信號
D.檢測并處理信號
最新試題
對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
缺陷分類應(yīng)符合驗收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
觀察底片時,為能識別缺陷圖像,缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識別閾值。
為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。
對于圓柱導(dǎo)體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
檢測申請時工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗合格后不得再實施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請進行X射線檢測。
底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
點焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。
一次完整的補焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。