電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

熱分析中對樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測試結果。

簡單立方結構材料發(fā)生衍射時，可以產(chǎn)生衍射的晶面為（）。

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

熱分析技術中，試樣用量越多，熱效應大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

在電子探針中，測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡寫為（）。

在熱分析技術中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。

熱分析中，不同性質的氣氛對測試結果沒有影響。