每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。

變形振動分為（）。

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強(qiáng)，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在（）半徑的倒易球上。

根據(jù)衍襯運(yùn)動學(xué)原理，理想晶體衍射強(qiáng)度隨（）而變化。

熱分析中，不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。

（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。