A.水層厚度
B.焦距和聚焦探頭的曲率半徑
C.掃查速度和重復頻率
D.探頭旋轉式設備的電耦合信號傳輸速度
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.橫向缺陷的檢測采用60°尖角槽人工缺陷
B.探頭與工件接觸面應吻合良好
C.掃差靈敏度在基準靈敏度的基礎上提高9dB
D.在檢測縱向缺陷時,探頭沿螺旋線進行掃查
A.折射角采用棱角反射法測定
B.入射點測定采用直徑為1.5mm×20mm的橫孔
C.利用中心發(fā)現(xiàn)儀測定入射角
D.利用曲面對比試塊測定入射點和折射角
A.一般采用液浸法耦合
B.可以在監(jiān)視器上進行A、B、C型顯示
C.缺陷利用網(wǎng)絡標記顯示二值化圖像
D.缺陷評定目前不能執(zhí)行JB/T4730.3—2005標準
A.兩介質(zhì)聲特性阻抗接近,界面回波小,容易檢出
B.兩介質(zhì)聲特性阻抗接近,界面回波大,不易檢出
C.兩介質(zhì)聲特性阻抗差別大,界面回波大,不易檢出查
D.兩介質(zhì)聲特性阻抗差別大,界面回波小,容易檢查
A.采用與被檢工件材質(zhì)相同的ϕ5mm平底孔試塊調(diào)節(jié)靈敏度
B.當?shù)酌娴谝淮畏瓷洳úǜ叩陀陲@示屏滿刻度的5%時即作為缺陷處理
C.缺陷第一次反射波波高大于或等于顯示屏滿刻度的50%時即作為缺陷處理
D.缺陷第一次反射波波高與底面第一次反射波波高之比大于或等于100%時即作為缺陷處理
最新試題
實際檢測中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測靈敏度適當提高,這種在檢測靈敏度基礎上適當提高后的靈敏度叫做()。
儀器水平線性影響()。
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。
單探頭法容易檢出()。
關于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準。
用折射角β的斜探頭進行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設備及波的形式有關。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。