最新試題

常規(guī)芯片封裝生產(chǎn)過(guò)程包括粘裝和引線鍵合兩個(gè)工序,而倒裝芯片則合二為一。

題型:判斷題

通常芯片上的引出端焊盤是排列在管芯片附近的方形()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

下列關(guān)于BGA球柵陣列的優(yōu)缺點(diǎn),說(shuō)法正確的是()。

題型:多項(xiàng)選擇題

在近十年由于材料和設(shè)備的發(fā)展,同時(shí)伴隨電子產(chǎn)品功能的日益增強(qiáng),()再次來(lái)到大眾視線

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

下面關(guān)于BGA的特點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

制造和封裝工藝過(guò)程中的材料性能是決定材料應(yīng)用的關(guān)鍵,制造性能主要包括()。

題型:多項(xiàng)選擇題

鍵合工藝失效,,鍵合點(diǎn)尾絲不一致,可能產(chǎn)生的原因有()。

題型:多項(xiàng)選擇題

根據(jù)焊點(diǎn)的形狀,引線鍵合有兩種形式,分別是()。

題型:多項(xiàng)選擇題

電子封裝是指對(duì)電路芯片進(jìn)行包裝,進(jìn)而保護(hù)電路芯片,以免其受到外界環(huán)境影響的包裝。

題型:判斷題

QFP的結(jié)構(gòu)形式因帶有引線框(L/F),對(duì)設(shè)定的電性能無(wú)法調(diào)整,而BGA可以通過(guò)芯片片基結(jié)構(gòu)的變更,得到所需的電性能。

題型:判斷題