檢查內(nèi)容:掩膜版選用是否正確、光刻膠層得質(zhì)量是否滿足要求、圖形的質(zhì)量、套刻精度是否滿足要求
曝光時間、前烘的溫度和時間、光刻膠的膜厚、顯影液的濃度、顯影液的溫度、顯影液的攪動情況
底膜處理、涂膠、前烘、曝光、顯影、堅膜、刻蝕、去膠、檢驗